犠牲層エッチングにおけるスティクション対策
犠牲層エッチングにおけるスティクション対策を、原因から整理。ウェット乾燥の毛細管力と気相HFの水の凝縮を切り分け、超臨界CO2乾燥や気相リリースの前提条件、確認ポイントを解説します。
MEMSからパワーデバイスまで、SPTのプラズマ・熱処理技術が多様な半導体製造に対応。課題解決型の技術を紹介します。
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MEMSデバイスの製造プロセスを基本フローから解説。シリコン深掘りエッチング(DRIE)の仕組み、ボッシュプロセスと極低温プロセスの違い、スティクションやノッチングなど量産化を阻む技術課題まで、体系的に整理します。
SPTのプラズマエッチングとPECVD技術で、MEMSデバイスの高精度かつスケーラブルな製造を可能にします。
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